粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA630/TA631/TA650

產品簡介

粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA630/TA631/TA650

產品型號：

更新時間：2024-11-04

廠商性質：代理商

訪問量：2138

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無損檢測儀器

鹵素檢漏儀/制冷劑氣體檢漏儀電子天平超聲波測厚儀德國馬爾粗糙度儀便攜式超聲波探傷儀深圳電火花檢測儀埋地管檢漏儀霍爾效應測厚儀美國DAKOTA超聲波測厚儀便攜式硬度計深圳粗糙度測量儀涂層測厚儀磁粉探傷儀測厚/探傷耦合劑

2024-01-18

2021-12-24

2020-10-24

2019-01-15

詳細介紹

北京時代粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA630/TA631/TA650

1.TA610測量平臺

·齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。

·花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）

·花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm

·垂直升降高度：270mm

·垂直升降微調量：20mm

2.TA620測量平臺

·絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量精度。

·花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）

·花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm

·垂直升降高度：300±1mm

·升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈

3.TA630微調平臺

4.TA650測量平臺（TR300）

·垂直方向上的升降高度：300±1mm （微調由儀器上的可調支架完成）

·垂直方向上的旋轉角度：±45°

·回程誤差：不大于手輪的1／6圈

·平臺的平面度：00級

·平臺尺寸：600 X 420 X 80 mm

·總高度：695 mm

·X—Y平面轉角，俯仰角。

·調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm

·旋轉角度：粗調 360 微調±5 俯仰角度 0～5

5.TA631微調平臺：

·X—Y平面轉角。

·調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm

·旋轉角度：粗調 360 微調±5

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